Spettroscopia fotoelettronica
La spettroscopia fotoelettronica induce l'espulsione di elettroni da parte di atomi o molecole in seguito al bombardamento con radiazione elettromagnetica di elevata frequenza o con fasci di elettroni.Se l'energia della radiazione č sufficiente (ν abbastanza elevata) si osserva ionizzazione.
Aumentando ulteriormente la frequenza, l'energia in eccesso č convertita in energia cinetica dell'elettrone espulso. Quindi:
- hν = EI + 1/2mev2
EI č l'energia di ionizzazione della specie che si vuole studiare
me č la massa dell'elettrone
Se ν č nota e si misura l'energia cinetica dell'elettrone, si può ottenere l'energia di ionizzazione. L'intensitĂ degli elettroni emessi fornirĂ informazioni sulla molteplicitĂ del livello da cui provengono gli elettroni. La distribuzione angolare invece offre informazioni sulla natura degli orbitali.
Table of contents |
2 Sorgenti 3 Misura dell'energia cinetica degli elettroni 4 Regole di selezione |
Se come sorgente si usa radiazione UV l'energia sarĂ sufficiente per strappare elettroni dagli orbitali di valenza, ci si riferisce a questa tecnica con il nome di UPS.
Se si usano raggi X si possono verificare invece diversi fenomeni. Si può strappare un elettrone di valenza in maniera analoga a quanto accade con radiazione UV, l'unica differenza sarà la maggiore energia cinetica dell'elettrone. L'elevata energia dei raggi X permette di strappare elettroni del core ottenendo un catione in uno stato notevolmente eccitato. Il rilassamento del catione potrà avvenire attraverso l'emissione di radiazione (fluorescenza XRF) oppure espellendo un ulteriore elettrone (effetto Auger). Le tecniche che impiegano raggi X vengono chiamate XPS.
Fenomeni che possono avvenire
Se gli elettroni fossero effettivamente indipendenti, come assume l'approssimazione orbitalica, l'unico meccanismo di ionizzazione possibile sarebbe la ionizzazione diretta. In questo fenomeno gli elettroni del sistema nella ionizzazione rimangono negli stessi orbitali che occupavano precedentemente e solo in un secondo momento vi sarà il rilassamento. Ma in realtà gli elettroni sono tutt'altro che indipendenti, possono scambiarsi energia e possono avvenire meccanismi di promozione-ionizzazione. Descrivendo tali fenomeni continuando ad avvalersi della rappresentazione orbitalica, si parla di shake-up quando la sorgente ionizzante comporta, oltre all'espulsione di un elettrone, anche la promozione di un elettrone a un orbitale di maggiore energia. Si parla invece di shake-off quando la sorgente ionizzante induce l'espulsione contemporanea di due elettroni. E' necessario sottolineare che l'effetto Auger e lo skake-off non sono la medesima cosa, il primo, almeno a grandi linee, può essere compreso anche nell'ambito dell'approssimazione orbitalica in quanto il secondo elettrone viene espulso solo in seguito al rilassamento.
Nelle molecole si può verificare anche il meccanismo di autoionizzazione se le superfici di energia potenziale del sistema prevedono uno stato eccitato della molecola neutra a energia superiore rispetto a uno stato ionizzato. In tali casi, se la transizione elettronica tra stato fondamentale e stato eccitato č permessa si può avere:
Questo fenomeno può essere riconosciuto disponendo di una sorgente modulabile che permetta di indagare il sistema sia nelle condizioni di risonanza tra A e A* che in condizioni fuori dalla risonanza. Sorgenti
L'energia minima richiesta per ionizzare atomi e molecole č tipicamente intorno a 10eV, ma č auspicabile che gli elettroni emessi abbiano elevata energia cinetica, quindi č necessario che la sorgente fornisca almeno 20eV e a volte anche di piů. le sorgenti piů impiegate sono He I e He II.
In He I l'elio viene sottoposto a scarica elettrica, che induce eccitazione e quindi fluorescenza.
La transizione predominante č 1P1(1s2p) → 1S0(1s2) di energia 21.22eV e lunghezza d'onda 58.4nm.
In He II l'elio č molto piů rarefatto e sottoposto a un campo elettrico piů intenso, in queste condizioni si ha una significativa concentrazione di ioni He+ che dĂ transizioni n=2 → n=1 di energia 40.81eV e lunghezza d'onda 30.4nm.
La larghezza delle linee č intorno a 4meV (32cm-1), quindi si riesce a vedere la struttura vibrazionale ma non quella rotazionale.
Le sorgenti XPS piů comunemente usate sono MgKα e AlKα.
Un target di magnesio o alluminio viene bombardato con fasci di elettroni prodotti per effetto termoionico e poi accelerati in un tubo a vuoto. L'energia cinetica degli elettroni viene convertita in radiazione elettromagnetica continua (bremsstrahlung) e induce anche ionizzazione del bersaglio.
Per esempio nel caso del magnesio il fascio di elettroni strappa un elettrone dell'orbitale 1s generando il catione eccitato Mg+ (2S1/2), il seguente rilassamento agli stati Mg+ (2P3/2) e Mg+ (2P1/2)
comporta la fluorescenza a energia 1253.7eV e 1253.4eV. Anche per AlKα si ottengono due linee: a 1486.7eV e 1486.3eV.
Si utilizza poi un reticolo di diffrazione come monocromatore per eliminare il bremsstrahlung, però la larghezza della linea rimane comunque ampia 0.2eV (1600cm-1), ciò significa che non si riuscirà a vedere la struttura vibrazionale.
- Sincrotrone
Questa sorgente, oltre al vantaggio di poter essere modulata, presenta un'intensitĂ notevolmente maggiore rispetto alle sorgenti standard. Per l'interessante tecnica EXAFS č indispensabile disporre di una sorgente di questo tipo. C'č però l'inconveniente che le apparecchiature necessarie sono mastodontiche (di norma il raggio della circonferenza supera i 15 metri) e i costi sono di conseguenza elevati. In Italia vi č un unico sincrotrone che viene impiegato per la spettroscopia fotoelettronica e per la diffrazione dei raggi X, si trova a Trieste.
I due metodi principali per misurare l'energia cinetica degli elettroni sono il metodo a campo ritardante e quello a deflessione, per le misure ad elevata risoluzione si usa invece la tecnica ZEKE.
Ovviamente in tutte le strumentazioni sperimentali sarĂ necessario applicare il vuoto spinto per non avere intereferenze ed evirare che gli elettroni emessi vengano perduti nell'interazione con la materia.
Misura dell'energia cinetica degli elettroni
Il campione viene immesso in una struttura cilindrica circondata da due griglie metalliche concentriche, all'esterno vi č poi il detector(collettore). La radiazione ionizzante viene immessa da direzione opposta a quella del campione e i fotoelettroni generati nell'asse del cilindro passeranno quindi attraverso le griglie per poi essere rilevati dal collettore. Viene applicata una differenza di potenziale tra le griglie ritardanti, aumentandola lentamente. Quando
ΔVe = hν - EI = 1/2mev2 si avrĂ una brusca diminuzione del numero di elettroni che raggiungono il collettore.
Questa tecnica ha lo svantaggio di avere una scarsa risoluzione poichč circa il 30% degli elettroni emessi vengono "catturati" dalle griglie ritardanti.
- Deflessione
Vengono impiegate calotte semicircolari per aumentare la frazione dei fotoelettroni con direzione "buona" per la rilevazione.
- ZEKE